SNOM

Scanning Near-field Optical Microscope

走査型近接場光顕微鏡

先端を細く尖らせた光ファイバーの針を使って記録材料に情報を書き込むことができる技術で、1992年に、AT&Tの研究者BetzigらがSNOM技術を使って100Gビットの光磁気超高密度メモリの可能性を実証しました。

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