SPM(Scanning Probe Microscope)

走査プローブ顕微鏡

非常に鋭く尖らせた探針と試料表面間の相互作用を用いて試料表面を観察する顕微鏡で、STM(走査トンネル顕微鏡)、AFM(原子間力顕微鏡)、MFM(磁気力顕微鏡)、NSOM(近接場光顕微鏡)などがあります。

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