トランジスタ内のリーク電流削減技術

トランジスタ内の電流の漏れ削減技術

トランジスタが小型化することにより、ゲート絶縁膜である二酸化シリコン(SiO2)が原子数個分という薄さになり、その結果リーク電流が発生し、バッテリの駆動時間短縮と無用な発熱の原因となることから開発されていた、リーク電流を消滅させる技術です。

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